X荧光光谱分析用硅铁合金玻璃片的简易制备方法

摘要

GB/T 4333.5-2016中采用熔铸玻璃片X荧光光谱法，此法为防止样品腐蚀坩埚，使用了挂壁预氧化技术，但此法对操作水平要求较高，方法操作繁琐、费时，同时极易由于操作不慎导致铂金坩埚被腐蚀。因此，在使用X荧光光谱仪分析样品的基础上，为增加样品检测效率，我们开发出一种制备硅铁合金玻璃样片的简易方法，通过预氧化熔融步骤整合的过程制备玻璃样片，省去繁琐复杂的挂壁操作，有效减少人为失误。实验结果显示，分析结果准确度符合相应国家标准的前提下，各元素测定结果 RSD可达到0.12～2.6%(n=8)，精密度好。成功解决了原有方法测定耗时长、操作繁琐的问题，为硅铁成分分析提供可靠的改进方案。