铁钢全自动分析系统的分析时长优化改进

摘要

文章为了解决铁钢全自动分析系统中铁样拍照合格率低、二次制样后分析时长过长导致系统利用率低的问题，首先通过控制样品加工深度，并逐次使用X射线荧光光谱仪进行分析，可获得同一样品、不同表面质量的分析结果，然后对结果进行分析得到样品表面质量与分析结果之间的关系，再根据分析结果调整设备参数，实现缩短分析时长的目的，从而提高设备的利用率。