高硅铝中间合金硅含量的测定
作者
-
孙晓钰
内蒙金属材料研究所
作者
-
张文文
作者
-
田小亭
作者
-
刘芳
作者
-
李宇菲
作者
关键词:
高硅铝中间合金,
ICP-AES,
参数调控,
硅元素
摘要
文章研究了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),测定高硅铝中间合金(硅含量为10%~25%)中硅元素含量的方法。通过详细探究不同称样量、溶样方法以及分析谱线对测定硅含量的影响,以确定最佳的实验条件。除此之外,通过基体匹配法、优化运行参数消除了干扰。实验结果表明,最佳检测方案为:称取0.0500g试样,加入25%氢氧化钠溶液10mL、30%过氧化氢3mL、浓硝酸8mL进行样品溶解,选择251.612nm为分析谱线,雾化器流量为0.8 L/min,RF功率为1250W。以最佳检测方案对样品进行测定,测定结果的相对标准偏差小于1.50%,回收率控制在97%~105%。
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