玻璃熔片-X射线荧光光谱法测定贫铁矿中铁等多元素

作者

  • 张国伟 内蒙古第十地质矿产勘查开发有限责任公司赤峰检测分公司 作者
  • 尹利娟 作者
  • 李梅梅 作者
  • 宋晓青 作者

关键词:

X射线荧光光谱法, 玻璃熔片, 内标法, 贫铁矿石

摘要

文章参照《铁矿石全铁及其他多元素含量的测定波长色散X射线荧光光谱法(钴内标法)》GB/T6730.87—2023国家标准,采用玻璃熔片法制样,并加入钴元素作为铁的内标元素,采用X射线荧光光谱法测定贫铁矿中铁等多元素。以岩石标准样品、土壤标准样品、磷矿标准样品、钛铁矿标准样品、铁矿标准样品作为校准,通过经验系数法校正基体效应。研究结果显示,该方法的精密度、准确度满足DZ/T 0130—2016要求。

已出版

2026-02-28

期次

栏目

实用技术

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